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蔡司掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料科學、生命科學等領域的重要分析工具，其樣品的制樣過程直接關系到觀察結果的準確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質量的微觀圖像。首先，根據(jù)樣品的性質（如導電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對于導電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導電膠將其固定在樣品臺上。而對于導電性較差或非導電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進行鍍膜處理，以增加導電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進行樣品的清洗和干燥。...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關新功能的信息，有一個演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應用正在蓬勃發(fā)展。與此同時，如何進行高分辨率的微觀表征和實時過程監(jiān)測，也成為相關研究的重要課題。在這一領域，掃描電鏡以其獨*的成像與分析功能，提供了極*價值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實現(xiàn)了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結構。同時，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結構與性能之間的內(nèi)在關系。此外，ZEM18還可進行各種原位測試，實現(xiàn)對化學反應過程的實時、動態(tài)監(jiān)測。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應用于材料科學、半導體工藝等領域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質微觀形貌進行表征。在半導體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應用于器件結構的實時檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結構分析等功能，適用于半導體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現(xiàn)器件結構的實時檢測和剖面分析，提高半導體器件的制造質量和性能穩(wěn)定...

近期，加拿大多倫多大學YuZou課題組與北京大學高鵬課題組、美國愛荷華州立大學QiAn課題組、加拿大達爾豪斯大學PenghaoXiao課題組合作，報道了利用電場控制位錯運動，他們通過原位和原子尺度電鏡表征結合理論計算揭示了電場控制位錯運動的機制。該研究成果以“利用電場控制位錯移動”（Harnessingdislocationmotionusinganelectricfield）為題，于6月19日發(fā)表在《自然-材料》（NatureMaterials）。位錯是晶體中常見的線缺陷，...

液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)是當前社會中應用非常多的顯示器，在日常生活中隨處可見。LCD主要由彩色濾光片基板(Colorfilter，CF)、TFT陣列(TFTArray)基板和背光模塊(Backlightunit)三大部分所組成。TFTLCD面板結構（圖片來源于網(wǎng)絡）在這三大組成部分里面，背光模塊對LCD非常重要，因為背光質量決定了液晶顯示屏的亮度、出射光均勻度、色階等重要參數(shù)，決定了液晶顯示器的發(fā)光效果。在背光模塊中有一層非常重要的光學薄...

每當發(fā)生命案，社會廣泛關注，盡早破案，最快找到兇手是每個人的心聲。但是隨著*罪分子反偵察技術不斷提高，作案手段智能化發(fā)展趨勢，*罪分子通過毀滅證據(jù)，*裝現(xiàn)場等手段，掩蓋或破壞*罪現(xiàn)場，使得刑事偵察難上加難，為此我們有必要借助某些精密設備，更快的找到*罪第一現(xiàn)場，更快找到真兇，還原事情真相，作出公正的判罰。掃描電鏡在司法鑒定行業(yè)發(fā)揮著不可忽略的作用，它具有檢測快速簡便，取材少，無損檢測，放大倍數(shù)高等一系列優(yōu)點，成為刑事技術檢測的重要工具。ZEM15掃描電鏡是澤攸科技自主研發(fā)的鎢...

在現(xiàn)代制造業(yè)和科研領域，平面度的精確測量至關重要。無論是汽車發(fā)動機的缸蓋密封性檢測，還是航空發(fā)動機葉片的平整度評估，都需要依賴高精度的測量工具。白光干涉儀，憑借其優(yōu)秀的橫向和縱向分辨率，已成為平面度測量的選擇利器。白光干涉儀的工作原理基于光的干涉現(xiàn)象。當一束白光照射在待測物體表面時，會形成反射光和透射光。這兩束光相遇后，會產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的形狀和間距與物體表面的形貌密切相關。通過比較標準平面和待測物體表面的干涉條紋，我們可以精確計算出待測物體表面...