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澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量

澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量。

澤攸MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。

地質(zhì)薄片自動(dòng)顯微掃描系統(tǒng)圖像放大后，依然可清晰觀察到薄片每個(gè)部分的顯微細(xì)節(jié)，可極大拓展偏光顯微鏡的觀察視域，且視域大小可任意變動(dòng)。通過大視域觀察，方便快速識(shí)別鏡下巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、顯微地質(zhì)現(xiàn)象和粗大礦物等。